ALVES CAVALCANTI, F.; PEREIRA DOS SANTOS, L. A. Effect of encapsulation in a VDMOSFET under X-ray beams used in medical diagnosis. Scientia Plena, [S. l.], v. 18, n. 9, 2022. DOI: 10.14808/sci.plena.2022.094801. Disponível em: https://www.scientiaplena.org.br/sp/article/view/6566. Acesso em: 20 may. 2024.